Caractérisation microstructurale des matériaux

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Auteur(s) : Claude Esnouf
Collection : Metis LyonTech
Editeur : Presses polytechniques et universitaires romandes (CH Lausanne)
Cette édition : 2011
Sous-titre : analyse par les rayonnements X et électronique
Prix neuf : 64.5 EUR
Code-barres : 9782880748845
Dimensions : 24 cm
Volume : 1 vol. (XVI-579 p.)
Autre : ill., couv. ill.